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XF660光谱仪
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应用领域 仪器特点 技术指标
XF660光谱仪采用最先进的硅漂移探测器(SDD),是优特公司为超薄样品的镀层测量、元素分析、ROHS分析而设计的一款高端仪器,实现最小分析直径在10um的微区测定,大幅度提高传统x射线荧光光谱仪的微小区域分析的灵敏度。适用于极微小样品。
1、镀层检测
在线测量超薄的太阳能电池中ClGS,ClS,CdTe层厚度;
测量玻璃面板、金属和塑料支架、太阳能胶片上薄膜的厚度;
测试尺寸较小接插件、电气连接器电镀,PCB电镀,塑料、ABS、镁铝合金电镀。特别适合PCB板上较小、较薄的Au、Ag、Pd等贵重金属电镀。
2、元素分析,微区扫描
电子和半导体工业中的镀层测量和分析
环境科学(大气颗粒分析)
生命科学(细胞分析)
冶金、地质、石油化工等行业
3、RoHS检测
欧盟RoHS指令规定所限制的Cr、Hg、Pb、Cd、Br的总含量检测,塑料中的Cl元素含量检测。镁铝合金电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP等。
4、镀液分析
电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的浓度检测,以及杂质元素Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn、Fe、Co、Mn、Sb等分析。
5、合金材料分析
不锈钢中的Fe、Cr、Ni、Mo等成分
合金钢中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb等成分
铜合金中的Cu、Zn、Fe、Cr、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分
锌合金中的Zn、Cu、Fe、Cr、Mn、Ni、Cu、Zn、、Sn、Sb、W、Pb等成分
焊锡中的Sn、Fe、V、Cr、Ni、Cu、Zn、Nb、Sb、W、Pb等成分
6、贵重金属鉴别
黄金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd等分析
铂金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr、Rh、Pd、Au等分析
钯金饰品的纯度检测以及杂质Ag、Ni、Cu、Zn、Cd、Y、Zr等分析
银饰品的纯度检测以及杂质Fe、Ni、Cu、Zn、Cd、Sn等分析
7、食品及安全检测
日常食品中微量元素Fe、Zn、Cu、Mn、Cr、Mo等分析
各种补品中有效成分分析,如补Ca口服液的Ca含量,补Zn口服液的Zn含量等
茶叶辨别:根据不同产地茶叶中微量元素不同,辨别茶叶种类和真伪
8、环境检测
汽油、柴油、煤油等中的含Pb、As、Cd等元素的检测
水质分析,分析河水、湖水、污水、地下水、饮用水中的Fe、Ti、V、Cr、Mn、Co、Ni、Cu、Zn、Nb、Mo、Sn、Sb、W、Pb、Hg、Cd等元素。
 
 
 
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